Artec Metrologie-Kit

Optisches Messsystem für bis zu 2µ

Eine professionelle Photogrammetrie-Lösung mit metrologischer Präzision und hoher volumetrischer Genauigkeit für Inspektionen, Reverse Engineering und andere industrielle Messanwendungen.
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Features

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Überall einsetzbar

Das gesamte Kit passt in einen robusten, tragbaren Koffer, und mit der dynamischen Referenzierung können Sie Objekte in Bewegung erfassen – perfekt etwa für Baustellen.

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DAkkS-zertifizierte optische 6DoF-Messung

Komplettes optisches Koordinatenmesssystem mit einer Genauigkeit von bis zu 10 Mikrometern. Kameraauflösung von bis zu 30,3 Megapixeln, 28-mm-Weitwinkelobjektiv, Messmarken, Adapter und Maßstäbe.

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Kompatibel mit verschiedener Software

Das Artec Metrology Kit ist mit branchenführenden Softwarelösungen wie Geomagic Control X, PolyWorks und noch vielen anderen kompatibel.

Wir sind

Gold Partner

Als Gold-zertifizierter Partner verfügen wir über exzellentes Know-How im Umgang mit den 3D Scannern von Artec. So können wir Sie optimal bei der Lösung Ihrer Anwendung unterstützen.

Punktbezogene Messgenauigkeit

0,002 mm

System entspricht

VDI 2634

Messsystem zertifiziert nach

DAkkS

Was ist das Artec Metrologie-Kit?

Ein optisches 3D-Koordinatenmesssystem für hochpräzise industrielle Anwendungen – denken Sie etwa an Verformungsanalyse, Prüfung, Inspektion. Das Metrologie-Kit ist flexibel genug, um sich in Ihren Arbeitsablauf integrieren zu lassen, es liefert perfekte Ergebnisse, sowohl in Ihrer Werkstatt als auch im Freien, und ist mit den wichtigsten Softwareprogrammen wie Control X und PolyWorks kompatibel. Das Metrologie-Kit kann als eigenständige optische Messlösung oder als Referenzierungswerkzeug für eine noch höhere 3D-Scangenauigkeit über eine größere Entfernung eingesetzt werden. Mit dem Metrologie-Kit-Plugin erhalten Sie die gesamten Abläufe für 3D-Scan und Photogrammetrie direkt in Artec Studio.

Vorbereitung des Objekts

Platzieren Sie auf Oberflächen rund um das Objekt Zielmarken, Referenzkreuze und Maßstabsleisten und stellen Sie sicher, dass diese sich während des Erfassungsprozesses nicht relativ zum Objekt bewegen.

Erfassen

Nehmen Sie systematisch Bilder in verschiedenen Höhen auf und bilden Sie mit den Kamerapositionen eine Art Kuppel um das Objekt. Nehmen Sie jedes Ziel mindestens 6 Mal und das Referenzkreuz aus vier senkrechten Winkeln auf.

Verarbeitung

Importieren Sie die Bilder mit dem installierten Metrologie-Kit-Plugin in Artec Studio oder in Ihre bevorzugte Photogrammetrie-Software, um eine Zielwolke zu erstellen.

Berichterstellung

Verwenden Sie die resultierende Punktwolke für Verformungsanalysen, Ebenheitsprüfungen, allgemeine Dimensionsmessungen oder Ihren eigenen spezifischen technischen Anwendungsfall.

Inspektion

Der Einsatz eines hochpräzisen optischen Koordinatenmesssystems macht die Inspektion von Objekten wie Flugzeugkomponenten, Schiffen und Windkraftanlagen zu einem sicheren und unkomplizierten Prozess. Erhalten Sie wesentlich präzisere Datensätze und führen Sie zuverlässig Inspektionen in Anwendungsfällen mit hohen Anforderungen an die Wiederholgenauigkeit durch. Verwenden Sie die Daten des Metrologie-Kits in Ihrem eigenen Arbeitsablauf, um Vergleiche mit 3D-Polygonnetzen und CAD-Objekten durchzuführen und hochpräzise Abstandsmessungen vorzunehmen. Genaue Messungen, die strenge Anforderungen an die Wiederholbarkeit erfüllen, können während fast jedes Produktionsschritts durchgeführt werden – auch wenn das Teil in Bewegung ist. Zum Beispiel auf einer hydraulischen Rampe.

Verformungsanalyse

Nutzen Sie diese optische Messlösung, um die Verformungseigenschaften von Materialien unter verschiedenen Umgebungsbedingungen und Belastungen – Prozesse, bei denen eine kurze Messzeit entscheidend ist – zu analysieren. Das Metrologie-Kit eignet sich hervorragend für die Analyse geometrischer Veränderungen etwa bei Lagertanks, Fahrzeugkomponenten oder Designprototypen. Arbeiten Sie bequem in anspruchsvollen Prüfumgebungen wie Klimakammern, wo sehr kurze Erfassungszeiten entscheidend sind, wobei zuverlässige Präzision und hochgenaue Datensätze ebenfalls nicht vernachlässigt werden dürfen. Der einfache Arbeitsablauf des Metrologie-Kits ist besonders wichtig bei einer großen Anzahl von Messpunkten, wie sie für Verformungsanalyse typisch sind, sowie unter extremen Arbeitsbedingungen wie bei hohen Temperaturen und Feuchtigkeit. Die Tragbarkeit und Nutzerfreundlichkeit des Metrologie-Kits ermöglicht das Arbeiten in für Klimakammern oft charakteristischen engen Räumen.

Industrielle Anwendungen

Ein ISO-zertifiziertes deutsches Offshore- und Meerestechnikunternehmen führt häufig Vermessungen und Inspektionen von Flanschen auf Offshore-Baustellen in der Nord- und Ostsee durch. Das Metrologie-Kit lässt sich dank seiner Portabilität leicht mit dem Hubschrauber transportieren. Kurze Messzeit, einfacher Arbeitsablauf und eine dynamische Referenzierung machen dieses Zubehör zur idealen Lösung für hochpräzise Anwendungen unter instabilen Bedingungen. Die komplette Messung der Ebenheit und Neigung der Flanschflächen, des Bohrlochdurchmessers sowie des Innen- und Außendurchmessers wurde innerhalb von 60 Minuten durchgeführt.

Kombinieren Sie optische Messungen der Photogrammetrie mit dem 3D-Scannen

Die hohen Auflösungen kleinerer 3D-Scanner und die Distanzgenauigkeit der Photogrammetrie ermöglichen selbst bei großen Projekten eine hohe Detailgenauigkeit und messtechnische Präzision. Importieren Sie Bilder, führen Sie die Registrierung durch, erzeugen Sie mehrere OBC-Punktwolken und arbeiten Sie mit diesen. Und kombinieren Sie Daten von verschiedenen Scannern, um in einem einzigen vollständig integrierten Arbeitsablauf ein endgültiges 3D-Modellzu erstellen. Die volumetrische Genauigkeit des Metrology Kits von 15 µm + 15 µm/m verbessert die Genauigkeit im Vergleich zur Verwendung eines 3D-Scanners – um das Dreifache bei einem 1-Meter-Scan, das 14-fache bei 15 m und sogar noch mehr bei größeren Objekten.

Vorbereitung des Objekts

Platzieren Sie auf Oberflächen rund um das Objekt Zielmarken, Referenzkreuze und Maßstabsleisten und stellen Sie sicher, dass diese sich während des Erfassungsprozesses nicht relativ zum Objekt bewegen.

Erfassung Ihrer Photogrammetrie-Bilder

Nehmen Sie systematisch Bilder in verschiedenen Höhen auf und bilden Sie mit den Kamerapositionen eine Art Kuppel um das Objekt. Nehmen Sie jedes Ziel mindestens 6 Mal und das Referenzkreuz aus vier senkrechten Winkeln auf.

Erzeugen einer Referenzwolke

Wählen Sie aus dem Dateimenü in Artec Studio das Artec Metrologie-Ki- Plugin . Importieren Sie die soeben aufgenommenen Bilder, führen Sie die Registrierung durch und erzeugen Sie die Referenzwolke. Die Zielwolke wird im Arbeitsbereich angezeigt. Es ist möglich, mehrere Zielwolken zu erzeugen, aus denen Sie vor dem Scannen auswählen können.

Scannen

Entfernen Sie kodierte Ziele, Referenzkreuze und Maßstabsleisten, so dass nur die nicht kodierten Ziele übrig bleiben, und scannen Sie das Objekt in seiner Gesamtheit. Wenn Sie Artec Leo verwenden, übertragen Sie die OBC-Datei, welche die Koordinaten der als Referenzen für die Scandaten zu verwendenden Zielmarken enthält, auf den Scanner, bevor Sie mit dem Scannen beginnen.

Verarbeitung

Das Scannen mit einer Zielreferenzwolke erzeugt hochpräzise Daten. Das bedeutet, dass Sie – außer in dem sehr seltenen Fall, dass Sie eine offensichtliche Fehlausrichtung feststellen – die globale Registrierung ganz auslassen können. Andernfalls können Sie direkt zur Fusion übergehen und erhalten ein hochgenaues 3D-Modell mit minimalen kumulierten Fehlern.

Referenzierung für 3D-Scans

Kombinieren Sie die dichte Punktwolke eines metrologischen 3D-Scanners mit der hohen Präzision der optischen Messungen des Kits, um die Möglichkeiten von Scannern für kleine bis mittelgroße Objekte zu erweitern. Sie können das Beste aus beiden Welten nutzen, indem Sie eine hohe Auflösung für kleinere Elemente innerhalb großer Objekte erhalten und diese zugleich vollständig mit minimalen kumulierten Fehlern und hoher volumetrischer Genauigkeit erfassen.

Für spiegelnde, transparente oder schwarze Oberflächen

Für 3D Scans mit einem Laser oder Strukturlichtscanner ist es erforderlich, dass Licht von der Oberfläche eines Objektes reflektiert wird. Bauteile mit einer spiegelnden, schwarzen oder transparenten Oberfläche müssen dafür vor der Erfassung mattiert werden. Die Wahl der passenden Mattierungslösung hängt von der Objektgröße und der Anwendung ab. Für einen Reverse Engineering Prozess ist die Schichtdicke meist eher ein untergeordneter Faktor, für einen Soll-Ist Vergleich im Rahmen der Qualitätssicherung ist die Schichtdicke hingegen entscheidend.

Endlose Möglichkeiten der Weiterverarbeitung

Sobald Ihr 3D Scan abgeschlossen ist, können die Daten für die weitere Verarbeitung und Analyse an die Ihnen vertraute Software übergeben werden. Sie exportieren die Scandatei bequem als STL oder OBJ. In Design X überführen Sie Ihren 3D Scan mittels einer Flächenrückführung in parametrische Daten. Dies ermöglicht die Rekonstruktion und Ergänzung von Altbauteilen sowie die Produktion von Ersatzbauteilen. Geomagic for SOLIDWORKS integriert den 3D Scanprozess als Add-On direkt in Ihre bestehenden Workflows. Überführen Sie ihre Scandaten ohne zusätzliche Schnittstelle in parametrische Daten, damit diese im passenden Format zur Weiterverarbeitung in Ihrem CAD Programm bereitstehen.
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Passende Handscanner

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Artec Eva 3D Hand Scanner
Eva

Objektgröße

M

Genauigkeit

0.1 mm
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Artec Space Spider 3D Scanner
Space Spider

Objektgröße

S

Genauigkeit

0.05 mm
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Artec Leo 3D Hand Scanner
Leo

Objektgröße

M, L

Genauigkeit

0.1 mm

Häufige Fragen

Das Metrologie-Kit ist ein optisches Koordinatenmesssystem, das hauptsächlich für verschiedene Arten der Inspektion (Rundheits-, Blech- und Befestigungsprüfung) und Analyse (Deformationsanalyse, Toleranzanalyse, 3D-Prozessanalyse) sowie zur Referenzierung für andere Messsysteme verwendet wird. Es kann auch zur Ausrichtung von Teilen, zum CAD-Vergleich und für optische Messungen zu anderen Zwecken verwendet werden.
Die Arbeit mit dem Artec Metrologie-Kit beginnt mit der Vorbereitung des Objekts unter Zuhilfenahme von Zielmarken, Referenzstäben und anderem Zubehör, das für die Messungen benötigt wird. Danach folgen die Erfassung, Übertragung und Verarbeitung des Bildes und die Berechnung der 3D-Koordinaten zur Erzeugung einer Punktwolke.
Da Verfahren wie Reverse Engineering und Inspektion in so zahlreichen Prozessen vorkommen, ist der Einsatz von optischen Systemen wie dem Artec Metrologie-Kit branchenübergreifend relevant. Das Metrologie-Kit wird generell in der Industrie, in der Luft- und Raumfahrt, im Automobilbau, in der Windenergie, im Eisenbahnbau und in noch vielen weiteren Bereichen eingesetzt.
Das Artec Metrology Kit wird mit den relevanten, für Sie vorkonfigurierten Einstellungen geliefert. Dazu gehören Fokus, Blende, ISO, Blitzempfindlichkeit und Belichtungszeit. Das Messsystem ist entsprechend diesen Einstellungen kalibriert. Um sicherzustellen, dass alles wie vorgesehen funktioniert, wird empfohlen, die Werkseinstellungen nicht zu verändern, da dies die Genauigkeit beeinträchtigen könnte. Weitere Informationen finden Sie auf der Support-Seite.
Das Artec Metrologie-Kit liefert auf die Distanz sehr genaue Messungen. Es erzeugt jedoch keine dichten Punktwolken, wie es 3D-Scanner tun. Je nach Anwendungsfall sollten Sie als das eine oder das andere, oder aber einen kombinierten Arbeitsablauf, verwenden.

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