Hirox SH-3500MB

Kostengünstiges Tisch-Elektronenmikroskop

  • Max. 30.000fache Vergrößerung
  • BSE-Detektor (Festkörpertyp)
  • 1kV bis 30kV Variable Beschleunigungsspannung
  • Multi-Vakuum-Modus – Standard / Aufladungsreduzierung
  • Bildbeobachtung Bereit innerhalb von 2 Minuten.
  • 3-Achsen-Hübe – X,Y,R
  • Optionen – EDS-System, Kühlstufe
Hirox SH3500MB Rasterelektronen Mikroskop

Features

rem_keyfeature_bse

Rückstreuelektronenkontrast (BSE)

Ziehen Sie durch die Detektion der zurückgestreuten Elektronen Rückschlüsse auf die chemische Natur des Objektmaterals.

Kompakt und Leistungsstark

Integration des EDX-Systems QUANTAX von BRUKER mit variabler Detektorgröße

Einfache Bedienung

Extrem einfach zu bedienen, benutzerfreundliche Software, sehr schnelle Probenwechsel, Vakuum in weniger als 3 Minuten!

Einfache Integration

System-Steuerung durch externen Standard-PC, anpassbar auf firmeninterne IT-Vorgaben. Austausch des Filaments inhouse mit algona® IC Vorjustage-Kit möglich

Präsentation anhand Ihrer Proben

Gerne präsentieren wir Ihnen anhand dieser Proben im Rahmen einer Web-Präsentation die Möglichkeiten unseres REM.

Anwendungsbeispiele

Typische Anwendungen der Desktop REMs umfassen die Untersuchung von Bruchflächen und Verschleißerscheinungen an Oberflächen sowie die Untersuchung von Oberflächenbelägen. Die Analyse von Partikeln und Ausscheidungen (Größe, Anzahl, Dichte, chemische Zusammensetzung) sowie die Überprüfung von Werkstoffen auf Inhomogenitäten zählt ebenso zu klassischen Anwendungsfeldern der Rasterelektronenmikroskopie.

Analyse von Partikeln

rem_particles

Material- und Biowissenschaften

rem_science

Analyse von Faserwerkstoffen

rem_fiberobs

Inspektion elektronischer Bauteile

rem_electron

Der Standard in der energiedispersiven Spektrometrie

Rüsten Sie Ihr REM optional mit einem EDS System aus. Die Kombination aus individueller Mikroskopanpassung, unübertroffener Geschwindigkeit und Präzision führt zu dem leistungsstärksten EDS-System für jedes Labor. Durch das hyperspektrale Mapping ist die Mikro- und Nanoanalyse keine Herausforderung mehr. Mit einer Spitzenauflösung von bis zu 121 eV erhalten Sie Spektren bester Qualität für genaueste Analytik.

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Häufige Fragen

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