Bilden Sie die Topografie des Objektes mittels Sekundärelektronenkontrast ab. Ziehen Sie durch die Detektion der zurückgestreuten Elektronen Rückschlüsse auf die chemische Natur des Objektmaterals.
Integration des EDX-Systems QUANTAX von BRUKER mit variabler Detektorgröße
Extrem einfach zu bedienen, benutzerfreundliche Software, sehr schnelle Probenwechsel, Vakuum in weniger als 3 Minuten!
System-Steuerung durch externen Standard-PC, anpassbar auf firmeninterne IT-Vorgaben. Austausch des Filaments inhouse mit algona® IC Vorjustage-Kit möglich
Gerne präsentieren wir Ihnen anhand dieser Proben im Rahmen einer Web-Präsentation die Möglichkeiten unseres REM.
Typische Anwendungen der Desktop REMs umfassen die Untersuchung von Bruchflächen und Verschleißerscheinungen an Oberflächen sowie die Untersuchung von Oberflächenbelägen. Die Analyse von Partikeln und Ausscheidungen (Größe, Anzahl, Dichte, chemische Zusammensetzung) sowie die Überprüfung von Werkstoffen auf Inhomogenitäten zählt ebenso zu klassischen Anwendungsfeldern der Rasterelektronenmikroskopie.
Rüsten Sie Ihr REM optional mit einem EDS System aus. Die Kombination aus individueller Mikroskopanpassung, unübertroffener Geschwindigkeit und Präzision führt zu dem leistungsstärksten EDS-System für jedes Labor. Durch das hyperspektrale Mapping ist die Mikro- und Nanoanalyse keine Herausforderung mehr. Mit einer Spitzenauflösung von bis zu 121 eV erhalten Sie Spektren bester Qualität für genaueste Analytik.
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