Bilden Sie die Topografie des Objektes mittels Sekundärelektronenkontrast ab. Ziehen Sie durch die Detektion der zurückgestreuten Elektronen Rückschlüsse auf die chemische Natur des Objektmaterals.
Mit den Maßen 300 x 465 x 600 mm ist das SNE ALPHA 40% kleiner als frühere Modelle
Automatische Aufnahme von Navigationsbildern und automatisches Vakuum beim Schließen der Tür
Schnellere und genauere Probenpositionierung mit ca. 5 µm Präzision
Auflösung von 5 nm: 250.000-fache Vergrößerung im Vergleich zum derzeit besten Tisch-REM. Die präzise Steuerung ermöglicht optimale Bilderfassung ohne Beschädigung der Proben.
Typische Anwendungen der Desktop REMs umfassen die Untersuchung von Bruchflächen und Verschleißerscheinungen an Oberflächen sowie die Untersuchung von Oberflächenbelägen. Die Analyse von Partikeln und Ausscheidungen (Größe, Anzahl, Dichte, chemische Zusammensetzung) sowie die Überprüfung von Werkstoffen auf Inhomogenitäten zählt ebenso zu klassischen Anwendungsfeldern der Rasterelektronenmikroskopie.
Erfassen Sie Bilder mit Leichtigkeit mit einer neuen und verbesserten Benutzeroberfläche. Dank optimaler Anpassungsmöglichkeiten können die Ergebnisse 60 % schneller als bei der vorherigen Software angezeigt werden.
Geringerer Platzbedarf dank kompakter, übersichtlicher Bauweise. Dank seiner platzsparenden Konfiguration (300(B) x 465(T) x 600(H)) lässt sich das SNE Alpha auch in den kleinsten Labors problemlos installieren.
Durch verbesserte automatische Funktionen wird die Bildaufnahme erleichtert. Die neue Auto-Gun-Align-Funktion ermöglicht es den Benutzern, Bilder mühelos aufzunehmen. Zusätzlich ermöglicht der verbesserte Autofokus, präzise gewünschte Bilder zu fokussieren und einzufangen. Des Weiteren eröffnet sich die Möglichkeit, ein breiteres Spektrum von Bildern zu erfassen. Insbesondere für die Umwandlung großer Proben in Bilder und deren Analyse sind großflächige Scans erforderlich. Eine Option, die hierbei zur Verfügung steht, ist BSE. Diese ermöglicht die Auswahl einer größeren Fläche der Probe, die zuvor nicht in einem einzelnen REM-Bild erfasst werden konnte. Dank dieser Upgrades werden die automatischen Funktionen optimiert, um eine effiziente Bildaufnahme zu gewährleisten. Zusätzlich ermöglicht die Option BSE die Erfassung größerer Probenflächen, was zu einer verbesserten Analyse beiträgt.
Erleben Sie die Leistungsfähigkeit unserer neuen, fortschrittlichen 3D-Rendering-Funktionen und tauchen Sie ein in eine faszinierende Welt der Oberflächeninspektion und -analyse. Mit diesen innovativen Tools wird es Ihnen spielend leichtfallen, die Oberflächenrauheit von Proben präzise und komfortabel zu untersuchen. Durch den Einsatz des 3D-Renderings eröffnen sich Ihnen detaillierte Einblicke in die Beschaffenheit und Struktur der Oberfläche. Dank realistischer Darstellungen können Sie feinste Details in erstaunlicher Klarheit betrachten und analysieren. Ob es um die Untersuchung von Mikrokratzern, Abweichungen in der Ebenheit oder strukturellen Merkmalen geht, das 3D-Rendering ermöglicht es Ihnen, die Oberfläche in einer beeindruckenden dreidimensionalen Darstellung zu erkunden.
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