Artec Metrologie-Kit

Ein optisches 3D-Koordinatenmesssystem für hochpräzise industrielle Anwendungen – denken Sie etwa an Verformungsanalyse, Prüfung, Inspektion. Das Metrologie-Kit ist flexibel genug, um sich in Ihren Arbeitsablauf integrieren zu lassen, es liefert perfekte Ergebnisse, sowohl in Ihrer Werkstatt als auch im Freien, und ist mit den wichtigsten Softwareprogrammen wie Control X und PolyWorks kompatibel. Das Metrologie-Kit kann als eigenständige optische Messlösung oder als Referenzierungswerkzeug für eine noch höhere 3D-Scangenauigkeit über eine größere Entfernung eingesetzt werden. Mit dem Metrologie-Kit-Plugin erhalten Sie die gesamten Abläufe für 3D-Scan und Photogrammetrie direkt in Artec Studio.

Der Einsatz eines hochpräzisen optischen Koordinatenmesssystems macht die Inspektion von Objekten wie Flugzeugkomponenten, Schiffen und Windkraftanlagen zu einem sicheren und unkomplizierten Prozess. Erhalten Sie wesentlich präzisere Datensätze und führen Sie zuverlässig Inspektionen in Anwendungsfällen mit hohen Anforderungen an die Wiederholgenauigkeit durch. Verwenden Sie die Daten des Metrologie-Kits in Ihrem eigenen Arbeitsablauf, um Vergleiche mit 3D-Polygonnetzen und CAD-Objekten durchzuführen und hochpräzise Abstandsmessungen vorzunehmen. Genaue Messungen, die strenge Anforderungen an die Wiederholbarkeit erfüllen, können während fast jedes Produktionsschritts durchgeführt werden – auch wenn das Teil in Bewegung ist. Zum Beispiel auf einer hydraulischen Rampe.

Nutzen Sie diese optische Messlösung, um die Verformungseigenschaften von Materialien unter verschiedenen Umgebungsbedingungen und Belastungen – Prozesse, bei denen eine kurze Messzeit entscheidend ist – zu analysieren. Das Metrologie-Kit eignet sich hervorragend für die Analyse geometrischer Veränderungen etwa bei Lagertanks, Fahrzeugkomponenten oder Designprototypen. Arbeiten Sie bequem in anspruchsvollen Prüfumgebungen wie Klimakammern, wo sehr kurze Erfassungszeiten entscheidend sind, wobei zuverlässige Präzision und hochgenaue Datensätze ebenfalls nicht vernachlässigt werden dürfen. Der einfache Arbeitsablauf des Metrologie-Kits ist besonders wichtig bei einer großen Anzahl von Messpunkten, wie sie für Verformungsanalyse typisch sind, sowie unter extremen Arbeitsbedingungen wie bei hohen Temperaturen und Feuchtigkeit. Die Tragbarkeit und Nutzerfreundlichkeit des Metrologie-Kits ermöglicht das Arbeiten in für Klimakammern oft charakteristischen engen Räumen.

Ein ISO-zertifiziertes deutsches Offshore- und Meerestechnikunternehmen führt häufig Vermessungen und Inspektionen von Flanschen auf Offshore-Baustellen in der Nord- und Ostsee durch. Das Metrologie-Kit lässt sich dank seiner Portabilität leicht mit dem Hubschrauber transportieren. Kurze Messzeit, einfacher Arbeitsablauf und eine dynamische Referenzierung machen dieses Zubehör zur idealen Lösung für hochpräzise Anwendungen unter instabilen Bedingungen. Die komplette Messung der Ebenheit und Neigung der Flanschflächen, des Bohrlochdurchmessers sowie des Innen- und Außendurchmessers wurde innerhalb von 60 Minuten durchgeführt.

Die hohen Auflösungen kleinerer 3D-Scanner und die Distanzgenauigkeit der Photogrammetrie ermöglichen selbst bei großen Projekten eine hohe Detailgenauigkeit und messtechnische Präzision. Importieren Sie Bilder, führen Sie die Registrierung durch, erzeugen Sie mehrere OBC-Punktwolken und arbeiten Sie mit diesen. Und kombinieren Sie Daten von verschiedenen Scannern, um in einem einzigen vollständig integrierten Arbeitsablauf ein endgültiges 3D-Modellzu erstellen. Die volumetrische Genauigkeit des Metrology Kits von 15 µm + 15 µm/m verbessert die Genauigkeit im Vergleich zur Verwendung eines 3D-Scanners – um das Dreifache bei einem 1-Meter-Scan, das 14-fache bei 15 m und sogar noch mehr bei größeren Objekten.

Kombinieren Sie die dichte Punktwolke eines metrologischen 3D-Scanners mit der hohen Präzision der optischen Messungen des Kits, um die Möglichkeiten von Scannern für kleine bis mittelgroße Objekte zu erweitern. Sie können das Beste aus beiden Welten nutzen, indem Sie eine hohe Auflösung für kleinere Elemente innerhalb großer Objekte erhalten und diese zugleich vollständig mit minimalen kumulierten Fehlern und hoher volumetrischer Genauigkeit erfassen.